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首页 > 供应产品 > 光学轴测量
光学轴测量
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产品: 浏览次数:21光学轴测量 
品牌: 光学轴测量
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-02-27 16:43
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详细信息
 王子计测光学轴测量装置PAM-PR300产品规格:  
测定项目  
偏光轴方位、配向角、位相差  
测定对象  
光学薄膜、偏光板  
测定原理  
旋转光子法、平行尼科尔旋转法、正交尼科尔旋转法  
测定时间  
约4秒(偏光轴测定)  
测定波长  
590nm(可选450nm,630nm等)  
样品尺寸  
30mm250mm,t=20mm以下  
系统配置  
测定装置本体,光源装置,电脑  
仪器尺寸  
W380×H390×D610mm  
仪器重量  
27kg  
王子计测光学轴测量装置PAM-PR300测量原理和精度:  
偏光轴方位测定  
位相差测定  
测定方式  
旋转光子法  
平行尼科尔旋转法  
测定项目  
吸收轴方位  
透过轴方位  
位相差值、配向角  
构成  
角度分解能  
0.001°  
0.001°  
角度精度(3σ)  
0.006°  
0.017°  
位相差分解能  
N/A  
0.01nm  
位相差精度(3σ)  
N/A  
0.03nm  
https://www.chem17.com/st458787/product_35214432.html 
http://www.shofound.cn/SonList-2186041.html 
原文链接:http://www.56zbw.cn/chanpin/show-181514.html,转载和复制请保留此链接。
以上就是关于光学轴测量全部的内容,关注我们,带您了解更多相关内容。
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